本發明公開了一種提高Serdes?IP晶圓測試效率的方法,包括以下步驟:S10:對晶圓測試的MAP圖進行實時讀取,記錄相應坐標、測試結果以及失效分類信息;S20:分析是否存在某個site測試明顯比其他site失效要多,或者某個site有連續的失效,若存在,則一旦site間差異失效數或連續失效數超出預設數量時進行該項目失效報警;S30:針對區域失效的特點,設計相應的算法完成統計,通過該方法的實現可以自動快速的對測試結果進行分析,針對Serdes?IP對測試硬件較敏感的特性,能夠及早的發現并排除隱患,減少誤測,以及對區域失效能快速的提取分析,大大減少人工數據分析的工作量,提高Serdes?IP晶圓測試生產的效率。
聲明:
“提高Serdes IP晶圓測試效率的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)