本發明公開了一種基于灰色系統理論LED芯片熱振加速壽命預測方法,首先通過對LED芯片施加不同加載模式下的加速應力,采集不同加速應力下的壽命實驗原始數據,然后運用灰色系統理論對實驗原始數據進行灰處理,獲得灰色分析數據,并構建灰色系統理論預測模型,最后對所建灰色系統理論模型進行灰色關聯度分析。與現有技術相比,灰色系統預測模型不用考慮溫振相互作用關系及物理失效規律相關的統計模型,可獲得高效、準確的預測與評估。本發明能夠通過加速應力下的原始壽命數據,通過灰色系統理論的數列預測,來預估正常工作時熱和振動雙應力下LED芯片的壽命,預測結果更接近工程實際,可為設計和生產高性能、高穩定性LED芯片提供科學數據理論參考依據。
聲明:
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