XE-7經濟型原子力顯微鏡
Park XE-7經濟型原子力顯微鏡是一款能夠實現納米級分辨率測量的設備,采用獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器,提供平滑、正交且線性的掃描測量,確保精確成像和樣品特征測量。其TrueNon-Contact?模式可多次掃描后仍保持高分辨率圖像,無需頻繁更換探針。該設備配備簡潔的圖形用戶界面和自動化工具,適合初學者快速上手,并支持多種掃描模式和功能升級,延長產品使用壽命。
簡介
在同級產品中,ParkXE7能夠帶來納米級分辨率的測量效果。得益于原子力顯微鏡架構,即立的XY軸和Z軸柔性掃描器,XE7能夠實現平滑、正交且線性的掃描測量,從而精確成像和測量樣品的特征。此外,Park的TrueNon-Contact?模式可以使探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。
ParkXE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具,即便是初學者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預準直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理,XE7能夠全力推動研究生產力的提高。
ParkXE7中所搭載的TrueNon-Contact?模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針尖端,并且它配有多功能的掃描模式,兼容性較為佳,讓您可隨時升級系統功能,從而延長產品的使用壽命。
產品特點
1)Smartscan智能掃描模式,“1,2,3”點擊即可實現成像
2)PinpointNanomechanical力控出圖模式,更優越的力學形貌成像及各種電學測試
3)強大的內置集成軟件系統,自帶LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/ForceCurve軟件模式
技術特點
1.XY軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強度壓電疊堆,可在保持平面外運動少的情況下,實現高正交運動以及納米級樣品掃描下的高響應度。緊湊且堅固的結構是為了低噪聲高速伺服回應而設計的;
2.Z軸掃描范圍可從標準的12μm增至40μm(選購遠距離Z軸掃描器)
3.燕尾式軌道設計,輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。
4.在手動XY軸樣品臺的控制下,樣品的測量定位變得簡單。XY軸樣品臺的行程范圍是13mmx13mm;
5.原子力顯微鏡的納米級信號是由高性能的ParkXE電子控制器所控制和處理的。憑借著低噪聲設計和高速處理單元,ParkXE電子控制器成功實現了TrueNon-Contact?模式,這是納米級成像和電壓電流測量的必要選擇。
主要功能模式
標準成像,力學測試、機械性能,化學性能、電性能,光性能(TERS)、熱性能等。
ParkXE7不同的選項適合于多種的研究,以下對
石墨烯不同性能的測試: