一種基于最小二乘支持向量機的晶體諧振器貯存壽命預測方法,該方法有四大步驟:步驟一:分析晶體諧振器在長期貯存過程中退化機理,獲得主要退化機理對參數變化的影響,確定晶體諧振器的退化敏感參數;步驟二:設計并開展晶體諧振器加速貯存退化試驗,對選定的敏感參數進行測量,定期采集試驗數據;步驟三:利用最小二乘支持向量機理論處理試驗數據,建立在不同加速應力水平下該敏感參數的退化模型;步驟四:建立正常應力下的晶體諧振器參數退化模型,確定失效判據,預測晶體諧振器的貯存壽命。本發明解決了在預測晶體諧振器貯存壽命時遇到的小樣本、非線性等實際問題,簡化了計算的復雜性,提高了收斂速度和精度,具有較高的推廣價值。
聲明:
“基于最小二乘支持向量機的晶體諧振器貯存壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)