• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 測試阻變隨機訪問存儲器件的數據保持特性的方法

    測試阻變隨機訪問存儲器件的數據保持特性的方法

    1179   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:00:18
    本發明公開了一種測試RRAM器件的數據保持特性的方法,包括以下步驟:a)控制樣品臺的溫度,將RRAM器件保持為預定的溫度;b)將RRAM器件設置為高阻態或低阻態;c)向RRAM器件施加預定的測試電壓,使其發生電阻態失效,以測量數據保持時間;d)重復步驟a)-c),進行多次測量;e)利用多次測量的數據保持時間,計算出RRAM器件的電阻態失效概率F(t);以及f)對電阻態失效概率F(t)進行擬合,并利用擬合得到的參數進一步計算出預期數據保持時間tE。優選地,利用電壓加速和溫度加速相結合預測RRAM器件的數據保持時間。該測試方法可以準確且快速地評估RRAM器件的數據保持特性。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “測試阻變隨機訪問存儲器件的數據保持特性的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>