一種用于半導體設備的測試方法,所述半導體設備設置有使用由第一編碼和第二編碼組成的乘積碼以實現存儲器的糾錯的ECC電路,所述測試方法包括以下步驟:獲得通過分別根據第一編碼和第二編碼的獨立校正操作實現的第一通過/失效確定結果和第二通過/失效確定結果;將該結果分別記錄在第一失效存儲器和第二失效存儲器中;執行與第一失效存儲器的內容與第二失效存儲器的內容有關的指定邏輯運算,如與運算;并根據邏輯運算的結果,對失效位和潛在失效位進行補救。
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