本發明公開了一種實現冗余功能存儲器芯片測試的方法,其把存儲器芯片主區域測試向量按最小冗余單元進行分割,做成子測試向量組;針對每個測試項目分別運行子測試向量組,讀出子測試向量組的每個向量的測試結果;把失效向量的序號換算成失效單元地址存放在內存變量中,不同測試項目的子測試向量組測試出的失效單元地址存放在不同的內存變量中,并累積計算每個測試項目的失效單元個數及地址;根據每個測試項目的失效單元個數及地址,統計得出存儲器芯片主區域失效單元數的總和以及失效地址。本發明的實現冗余功能存儲器芯片測試的方法,可以利用自帶數字向量發生器的數字測試機實現和存儲器測試機相同的冗余功能存儲器芯片測試,降低測試成本。
聲明:
“實現冗余功能存儲器芯片測試的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)