本發明公開了一種存儲器的測試方法,所述存儲器具有n個測試項目,所述測試方法包括對測試項目i進行N次判斷,其中,1≤i≤n,1≤N≤100,且i和N均為整數;當i小于n時,若對所述測試項目i的第N次判斷結果為合格,則進入測試項目i+1的測試;當i等于n時,若對所述測試項目i的第N次判斷結果為合格,則判斷所述存儲器為合格品;當N小于100時,若對所述測試項目i的第N次判斷結果為失效,則進行對所述測試項目i的第N+1次判斷;當N等于100時,若對所述測試項目i的第N次判斷結果為失效,則判斷所述存儲器為不合格品。這樣的測試方法可以大幅度提高測試穩定性,大大降低誤判率,從而提高產品良率。
聲明:
“存儲器的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)