本發明公開了一種閃存的可靠性測試方法,該方法通過兩次測試步驟來對閃存進行篩選,第一次測試步驟直接篩選出不良品,將不能判定為不良品的閃存作為待確認良品,以便在第二次測試步驟中對該待確認良品進行進一步的測試,經過兩次測試之后才篩選出真正的良品,提高了可靠性測試方法的準確度。另外,兩次測試步驟中均對閃存施加電壓應力,正確模擬了閃存在25℃(室溫)條件下使用10年時所承受的正常應力條件,因而能夠利用電壓應力來激發閃存在短時間內產生跟正常應力水平下相同的失效,進而能夠利用該可靠性測試方法來對失效反應活化能較低的閃存進行篩選。
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