本實用新型公開了一種廢孔模塊通用測試器,包括用于盛放廢孔模塊的底座以及和底座相對運動的夾緊板,夾緊板設有用于和廢孔模塊的表面金屬接觸的測試針,測試針連接于外部測試電路,八對測試針大體呈4x4矩陣分布,其中由上至下第二行和第四行的由左至右的第二根測試針均相對規范的矩陣分布向上偏移預設距離,預設距離大于廢孔模塊上廢孔的直徑。當智能卡模塊加工失誤打出廢孔后,采用將與廢孔位置對應的測試針上移預設距離的結構設計,使得部分懸空的測試針可以對準廢孔模塊的金屬表面部分,進而反饋相應的電路信息至測試電路,可以有效便捷的獲知廢孔模塊的失效狀態以及失效原因。
聲明:
“廢孔模塊通用測試器” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)