隨機存取內存(DRAM)的測試,已經廣泛使用于內存模塊的生產質量控制作業當中,其中較為先進且逐步導入至內存模塊生產測試的項目為高溫環境測試,其主要的目的是用來篩選出早期失效不良的制品,以確保產品使用的可靠度與耐受性。本發明公開了一種新的高溫測試系統,可適用于內存模塊的高溫環境測試中,其具有低成本、易維護及結構簡單等的特性,特別適用于大量生產的操作使用條件要求。
聲明:
“高溫測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)