本發明公開一種基于鹽霧環境試驗的印制電路板使用壽命評估方法,首先,通過將該印制電路板的失效模式與工作環境進行相關聯,建立了基于鹽霧試驗的加速壽命預測模型,通過試驗數據與Arrhenius加速壽命預測模型相結合的方法,繪制了溫度、鹽溶液濃度及鹽霧沉降量等三個環境因子與試驗樣品腐蝕面積間的變化曲線,有效地預測了該印制電路板在鹽霧環境服役條件下的服役壽命;克服了傳統可靠性分析方法在分析小樣本,失效機理復雜系統時無法精確建模的問題。其次,在裝置的研制階段,通過開展加速壽命試驗,縮短試驗時間,提高海上武器裝備使用壽命驗證水平,讓使用中可能出現的問題在服役前得到充分暴露和解決,從而制定科學合理的維修決策,以節省維修費用,并保障戰備的完好和任務的成功。
聲明:
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