• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 高安全芯片有源屏蔽物理保護結構的設計方法

    高安全芯片有源屏蔽物理保護結構的設計方法

    793   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:02:35
    本發明提出了一種高安全芯片有源屏蔽物理保護結構的設計方法。芯片有源屏蔽物理保護結構具有防止高安全芯片受到侵入式攻擊(如被物理篡改或探測)的作用。有源屏蔽線采用單層金屬走線,布滿芯片表面。為了保證下層物理圖形不被攻擊,通常金屬走線采用最小的設計規則。如果全芯片布滿按最小規則設計的圖形,將會增加由于顆粒沾污導致的芯片電路功能性能失效的可能性。為了減少量產芯片電路失效,通常會放寬有源屏蔽線的寬度(width)或和間距(spacing)。而放寬有源屏蔽線尺寸又會降低芯片的安全性。為了解決芯片安全性和量產產品的成品率(yield)之間的矛盾,本文提出了變截距(pitch)的有源屏蔽物理保護結構,實現芯片產品的安全性和成品率的雙提升。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “高安全芯片有源屏蔽物理保護結構的設計方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>