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GWGY-1000W型高溫高壓介電常數測試儀是一款區別目前市場上高溫介電測試儀，也是研究材料介電性能的新領域，采用全新技術，打破了之前的只能在變溫下的頻率下測試，該設備能夠在對樣品進行高溫測試的同時，給樣品加高壓，最高可達5000V直流高壓，更加直觀的看到樣品在外加高壓的條件下，內部相關的性質變化，很多關于薄膜和壓電陶瓷樣品，是在外加高壓條件下，性能會出現比較大的變化，無疑給新的科研提供新的研究方向，對于研究新產品及半導體材料有著重要作用。也是目前高校研究和生產的重要儀器。
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JXLR-600型高低溫金相顯微鏡不僅能觀察動態圖像，還能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。具有附件多，使用性能廣泛，能做明場、暗視場和偏光觀察等有點。物鏡、目鏡和觀察筒都進行了有效的防霉處理，能確保獲得持續清晰的圖像，并延長顯微鏡的使用壽命。JXLR-600型高低溫金相顯微鏡是研究新材料在極端條件下的重要科研設備。
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DZXLR-300型高低溫倒置顯微鏡（溫度：-190℃到300℃）集合了優良的無限遠顯微光學系統與現代高品質顯微觀察方法，可以輕松實現明視場、相位相襯等觀察，清晰明亮的顯微圖像，簡單穩定的操作。專為細胞組織的培養觀察而設計，高對比度，高分辨率，凸顯細胞輪廓和內部結構 ；并可實現明場、熒光、相襯觀察等，滿足實驗室日常工作及基礎研究的需求?？梢詽M足科研和生產在高低溫，變溫環境下的測試，是目前研究科研的重要儀器。
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AFM-120型變溫原子力顯微鏡冷熱臺是一款高性能、高性價比的科學研究級設備，專為原子力顯微鏡設計，支持多種工作模式和功能模塊擴展，滿足基礎科研需求。其開放式結構設計支持定制化功能選擇，配備XYZ三軸獨立閉環壓電陶瓷掃描器，實現高精度定位和高分辨掃描測量，納米表征和測量精度優于99.5%。該冷熱臺采用熱電制冷，溫度范圍為-10℃至120℃，顯示精度為0.1℃，控溫精度為±0.1℃，樣品區域為34×34mm，最大加熱和冷卻速率均為20℃/min。設備尺寸為130×80×8mm，凈重0.2kg，無觀察窗口，無真空度要求，需配備水冷組件。
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CMCG-400型超低溫光學冷熱臺平臺（GM制冷機） 產品簡介CMCG-400型超低溫光學冷熱臺平臺此型號冷臺采用縣空隔振設計，樣品臺震動小于100nm。冷臺體積小巧，方便與顯微鏡、拉曼光譜儀等設備集成。附件豐富，包括低溫壓電位移臺、光前組件、電學接頭、不同材質窗片等可供搭配?？梢詮V泛用于半導體工業、MEMS、超導、電子學、貼電子學、物理學和材料學等領域。
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BLRT-600型背面探針型冷熱臺是一款適用于背面電極樣品的高精度溫控設備，具備耐高低溫的重復使用探針。其設計特點包括遠距離上部觀察窗口，無需氣體吹掃防結露，以及外部接線盒用于信號切換，可結合濕度控制模塊進行鈣鈦礦、太陽能電池、OLED等的變溫測試。采用液氮制冷，溫度范圍從-190°C至600°C，溫度分辨率和控溫精度均為0.1°C，最大加熱速率為50°C/min，冷卻速率為-30°C/min。樣品臺尺寸為30×35mm，觀察窗直徑為41mm，設備尺寸為100×140×54mm，凈重0.9kg。
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GWJDN-0.1HZ型四通道超低頻高溫介電測量系統應用于高溫環境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設備，完成不同參數的測試。是一款超低頻高低溫四通道介電測試系統，性能優越，完全科研級別是國家科研院所和高等學府的首選設備。
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JSRT-1000型金屬線材電阻率測試儀是一款針高分辨率、高精度的臺式機型，可用于金屬線材、棒材等材料電阻率、電導率測量及絞合電線電纜電阻、米電阻的高精度測量。
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JSDT-300A型智能金屬導線、棒材電阻率儀能便攜全自動測量導線、棒材電阻率、電導率等參數高性能檢測儀器。
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HTIM-300高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaAsAl、GaAsP，固溶體半導體，如Ge-Si、GaAs-GaP等的塊體材料的電阻率測量等材料的電阻率測量。
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HW-ISD2200nm紅外半導體激光器是一款高功率穩定性的先進材料測試儀器，輸出功率在0到最大值之間連續可調，具備線偏振和TE00模特性。它采用原裝進口激光二極管，確保工作性能可靠和激光器壽命長，適合長時間連續工作。該激光器配備過熱和限流保護電路，以及TEC和激光頭風扇制冷系統，支持外接信號發生器進行高速調制（TTL和模擬調制）。廣泛應用于熒光激發、光譜分析、細胞腫瘤照射、醫療分析和光電檢測等實驗領域。
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JX-HEM100型教學電性能綜合測試儀JX-HEM100型教學電性能綜合測試儀是一款專門應用于霍爾效應測試的教學儀器，采用觸摸屏設計，功能特點：運用范德堡法測試，可用于測試教學樣品的霍爾系數、載流子濃度、載流子遷移率等；是高校教學中的重要儀器。
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北京時代天晨科技有限公司推出的TCHV-1000Z自動轉塔顯微硬度計，是一款集高精度、自動化與智能化于一體的專業硬度測試設備，專為金屬、陶瓷、薄膜及復合材料的顯微硬度分析需求設計。該儀器支持維氏（HV）、努氏（HK）及表面洛氏（HRN/HRT）多標尺硬度測試，采用電磁力加載技術與全自動轉塔結構，可實現從微小壓痕到深層硬化層的快速精準分析。
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北京創誠致佳科技有限公司推出的FALCON500自動聚焦型顯微維氏硬度計，是一款融合高精度力學加載、智能光學聚焦與數字化控制的前沿硬度檢測設備，專為滿足工業研發、精密制造及質量控制領域對微區硬度分析的自動化、高精度需求而設計。該設備通過集成電動加載系統、激光輔助自動聚焦模塊與全觸控交互平臺，實現了壓痕測試的全程無人化操作，顯著提升了檢測效率與數據可靠性。
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北京晟達科儀檢測設備有限公司推出的SD-1MDTe數顯觸摸屏自動轉塔顯微硬度計，是一款融合高精度力學加載、智能化操作與快速轉塔結構的創新型硬度檢測設備，專為滿足現代工業生產、材料研發及質量控制領域對微區硬度分析的高效、精準需求而設計。該設備通過集成電動加載系統、自動轉塔機構與數字化觸控平臺，實現了壓頭與物鏡的快速切換及全流程自動化控制，顯著提升了檢測效率與數據可靠性。
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北京航天偉創設備科技有限公司推出的HVS-1000AT觸摸屏數顯自動轉塔顯微維氏硬度計，是一款集高精度測量、智能化操作與高效自動化于一體的創新型硬度檢測設備，專為滿足現代工業與科研領域對材料微區硬度分析的嚴苛需求而設計。該設備通過融合先進的轉塔式結構與數字化技術，實現了壓頭與物鏡的快速切換及全流程自動化控制，顯著提升了檢測效率與數據準確性。
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賽默飛Nicolet iS10傅立葉紅外光譜儀是一款高性能實驗室型分析儀器，基于傅立葉變紅外光譜（FTIR）技術工作。儀器通過中紅外光源（Ever-Glo）發射紅外光，經分束器（KBr/Ge優化或XT-KBr/Ge擴展中紅外區）將光束分為參考光與測量光，兩束光在干涉計中重新合并形成干涉圖，再通過快速傅立葉變換算法轉化為光譜數據。檢測器采用含重氫三甘醇硫酸鹽（DTGS）或液氮冷卻的碲化鎘汞（MCT）探測器，實現7800—350cm?1波數范圍的高精度檢測，分辨率優于0.4cm?1，掃描速度達40張光譜/秒。
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朗鐸科技推出的尼通手持合金分析儀XL3t980是一款基于X射線熒光（XRF）技術的便攜式金屬成分檢測設備，其核心工作原理為：儀器內置高性能微型X射線光管（銀靶材，0-50kV管電壓、0-200μA管電流）發射高能X射線，激發樣品表面原子內層電子躍遷，外層電子回遷時釋放特征熒光X射線。通過超大面積硅漂移探測器（1μm石墨烯窗口）捕捉熒光信號，結合定制化工業系統內置的80MHz ASICS數字信號處理器，快速解析元素種類與濃度，實現從鎂（Mg）到鈾（U）的周期表元素全覆蓋檢測。
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朗鐸科技（北京）有限公司推出的尼通XL2 Plus手持式合金分析儀，是一款集便攜性、精準性與高效性于一體的分析工具。其核心工作原理基于X射線熒光技術，通過2W X射線管發射高能X射線激發樣品原子內層電子躍遷，產生特征性二次X射線，再由硅漂移探測器（SDD）接收并解析其能量與強度，結合智能基本參數法（FP）校正基質效應，實現從鎂（Mg）到鈾（U）的元素快速定量分析。該技術無需樣品制備，單次測量僅需數秒，適用于現場快速決策場景。
2025年09月12日 ~ 14日 
2025年08月22日 ~ 24日 
2025年08月21日 ~ 23日 
2025年08月18日 ~ 20日 
2025年08月15日 ~ 17日 
