工作原理:
基于X射線熒光光譜分析技術(XRF)。當儀器內置的高能X射線管發射出的X射線與樣品原子碰撞時,原子內層電子被驅逐產生空穴,使原子體系不穩定。外層電子向空穴轉移時,釋放出具有元素特征能量的X射線熒光。高靈敏度BOOST型Si-PIN探測器捕捉這些熒光信號,并將其轉化為電信號。儀器通過內置算法與數據庫比對,快速解析出元素的種類和含量,實現無損、快速的材料成分分析。
應用范圍:
在廢舊金屬回收領域,可快速鑒別金屬材質和成分,提高回收效率;在金屬加工制造行業,對原材料及零部件進行成分檢測,確保產品質量符合標準;在航空航天領域,用于關鍵零部件的合金成分分析,保障飛行安全;在石化、電力等行業,可對設備材質進行可靠性鑒別(PMI),防止因材質問題導致的安全事故;在考古領域,能無損分析文物材質,輔助年代鑒定與修復方案制定。
產品技術參數:
該儀器可分析從鎂(Mg)到鈾(U)之間的多種元素,檢測范圍廣泛。激發源為50KV/200uA,管壓管流可自由調節,采用Ag靶材(標準),Au、W、Rh靶可選配。探測器為BOOST型Si-PIN探測器,具有較高的分辨率和靈敏度。儀器尺寸為254×79×280mm,重量1.6Kg(配置電池),便于攜帶。配備工業級電阻觸摸屏,屏幕尺寸4.3英寸,操作方便。
產品特點:
體積小、重量輕,方便攜帶至各種現場。操作界面簡潔直觀,一鍵式操作,即使非技術人員也可輕松掌握。儀器具備智能電池管理系統,可實時監控電池剩余容量,單個電池可持續工作8小時左右。內置DoubleBeam?技術,自動感知儀器前方有無樣品,提高射線安全性。同時,儀器具有強大的數據存儲和管理功能,支持多種數據格式輸出,方便用戶進行數據分析和報告生成。