工作原理
ARTUS-10 基于原子發射光譜學原理,通過電弧或火花放電激發樣品表面原子至高能態。當原子躍遷回低能態時,釋放特定波長的光子形成特征光譜。儀器采用雙光室光學系統,將紫外波段元素(如N、P、S、C)與可見光波段元素分離分析,避免交叉干擾??蒲屑壷评銫MOS檢測器接收光譜信號后,轉換為電信號傳輸至計算機,通過OEO(Optimal Element-Oriented)技術對每個元素獨立優化參數,實現高靈敏度檢測。
應用范圍
高純金屬檢測:檢測高純鉛、鋁、銅等材料中痕量雜質,檢出限低至1ppm,滿足半導體、功能鍍膜靶材等高端制造需求。
冶金與鑄造:快速分析鐵基、鋁基、銅基等合金成分,支持爐前質量控制與來料檢驗。
汽車與航空航天:檢測發動機零部件、航空材料中的關鍵元素含量,確保材料性能符合標準。
科研與教育:提供高精度元素分析工具,支持新材料研發與教學實驗。
產品技術參數
參數類別 規格
檢測器 科研級制冷CMOS,可獨立優化每個元素參數,OEO技術提升靈敏度
光學系統 雙光室設計,紫外波段與可見光波段獨立分析,避免交叉干擾
波長范圍 130-700nm,覆蓋全譜元素分析需求
分辨率 紫外3600條/mm,可見2400條/mm,確保光譜線清晰分離
檢出限 1ppm(部分元素更低),滿足痕量分析要求
穩定性 終身無需漂移校正,光室恒溫設計,壓鑄鋁合金整體光室,4級消除應力處理
分析時間 ≤10秒/次,顯著提升檢測效率
氬氣消耗 較傳統儀器節約2/3,降低運行成本
軟件功能 A-Care遠程云服務,支持固件升級、設備狀態監控與異常自動通報
尺寸與重量 706mm×810mm×513mm,主機重量約100kg
工作條件 溫度10-30℃,濕度20%-80%,電源90-260V AC 50/60Hz
產品特點
超高靈敏度與低檢出限:
科研級制冷CMOS檢測器結合OEO技術,對紫外波段元素(如C、P、S、N)靈敏度更高,檢出限低至1ppm,滿足高純金屬檢測需求。
卓越穩定性與長期可靠性:
終身無需漂移校正,光室恒溫設計與壓鑄鋁合金整體光室(4級消除應力處理)確保光譜位置長期穩定,避免環境溫度波動影響結果。
高效分析與成本優化:
雙光室設計提升分辨率,分析時間≤10秒/次,較傳統儀器提速50%以上;氬氣消耗節約2/3,降低長期運行成本。
智能軟件與遠程服務:
A-Care遠程云服務支持固件升級、設備狀態監控與異常自動通報,減少現場維護需求;軟件主界面簡潔,圖形化顯示提升操作效率。
易用性與樣品適應性:
強大的ASR(Aberrant Spark Removed)技術移除異常激發火花,降低樣品制備要求,即使樣品有裂紋也不影響分析結果;支持固體樣品直接進樣,簡化前處理流程。