工作原理
該設備基于原子發射光譜分析原理實現元素檢測:
測試時,將金屬樣品表面打磨平整后置于激發臺,高壓電弧或火花光源瞬間激發樣品表面原子,使其從基態躍遷至激發態。當原子返回低能級時,釋放特定波長的特征光譜線。這些光譜線通過光柵分光系統分離成單色光,并投射至高靈敏度CCD探測器。系統通過比對標準光譜庫與實測光譜強度,結合內標法校正基體效應,自動計算各元素的含量百分比。整個過程僅需3-5秒,無需化學試劑,無損樣品表面。
應用范圍
適用于以下場景的金屬成分分析:
冶金行業:鐵合金、鋁合金、銅合金、鋅合金等原材料的入庫檢驗與成分控制;
鑄造加工:鑄鐵、鑄鋼、壓鑄件等爐前快速成分調整與廢品原因分析; - 機械制造:軸承鋼、工具鋼、不銹鋼等關鍵部件的牌號鑒定與雜質元素檢測;
廢舊金屬回收:廢鋼、廢鋁、廢銅等混合金屬的分類分級與價值評估;
科研領域:新材料開發中的元素配比優化及工藝驗證。
技術參數
型號:XAU-X
分析元素范圍:C、S、P、Si、Mn、Cr、Ni、Mo、Cu、Al、Ti、V等20余種元素
檢測限:0.0001%-0.01%(依元素而異)
重復性:≤0.5%(相對標準偏差)
穩定性:≤1%(連續8小時測量)
激發光源:高壓脈沖電弧光源(頻率100-300Hz可調)
分光系統:全息光柵+CCD線性探測器
激發孔徑:Φ3mm
分析時間:3-5秒/次
數據接口:USB、藍牙、以太網
電源:AC220V±10%,50/60Hz或內置鋰電池(續航6小時)
外形尺寸:450×350×250mm
重量:約18kg
產品特點
便攜式設計:集成化主機與觸摸屏操作,可攜帶至生產線或現場檢測,無需固定實驗室環境;
全譜直讀技術:覆蓋紫外至可見光全波段,支持多元素同步檢測,避免傳統光譜儀的波長掃描耗時;
智能校準功能:內置標準樣品庫與自動基線校正算法,無需頻繁標定,開機即測;
多模式分析:支持牌號匹配、成分比對、雜質篩查等模式,自動生成符合ASTM E415、GB/T 4336等標準的檢測報告;
耐用性強:防護等級IP54,適應高溫、粉塵等惡劣工業環境,維護成本低。