工作原理:
OmniScan SX采用相控陣超聲技術,通過多晶片探頭(如16/32/64晶片)發射和接收超聲波束。設備內置的相控陣模塊可精確控制每個晶片的激發時序,形成可動態聚焦與偏轉的超聲波束,實現對復雜幾何結構或不規則缺陷的全方位掃描。同時,設備支持常規超聲檢測模式,通過單晶或雙晶探頭完成基礎檢測任務。系統搭載高速數字信號處理芯片,實時分析反射回波的幅度、時間及相位信息,生成高分辨率的A掃描、B掃描、C掃描及S掃描圖像,精準定位缺陷位置并量化其尺寸。
應用范圍:
適用于航空航天領域發動機葉片、渦輪盤、機匣等關鍵部件的缺陷檢測;滿足石油化工行業壓力容器、管道焊縫、儲罐底板的在役檢驗需求;可應用于電力能源領域汽輪機轉子、核電設備主管道的制造質量驗收;同時支持軌道交通車輛輪對、軸箱體等部件的疲勞裂紋篩查,符合ASTM E2373、ISO 18563等國際標準要求。
產品技術參數:
支持相控陣與常規超聲雙模式檢測;最大晶片數64,頻率范圍0.5MHz-20MHz;脈沖重復頻率(PRF)最高10kHz;數據采樣率240MHz;動態深度聚焦(DDF)支持多焦點層檢測;屏幕分辨率800×480像素,支持觸控操作;防護等級IP65,適應-10℃至50℃工作環境;單電池續航≥6小時,支持熱插拔更換。
產品特點:
一體化設計集成PAUT與UT功能,降低設備采購成本;智能校準向導簡化操作流程,縮短檢測準備時間;多掃描模式(線性、扇形、TOFD)靈活適配不同檢測場景;高速USB 3.0與Wi-Fi實現數據實時傳輸與云存儲;配套分析軟件支持缺陷三維重構與報告自動生成,助力企業構建數字化檢測管理體系。