薄膜厚度測量儀

簡介

使用Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得厚度及光學參數值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀就可以和市面上多數的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產品介紹：

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區域進行，或者其他應用要求光斑小至1微米時，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得厚度及光學參數值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀就可以和市面上多數的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產品特點優勢：

結合顯微鏡的膜厚測量系統，光斑小至一微米的測量精度；

匹配市面多數的顯微鏡連接使用；

清晰且直觀地觀察樣品并確認測量位置；

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀測量原理：

當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產生震蕩的現象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。