本發明提供一種液位測量方法,用以測量多層熔體中每層熔體的高度。本發明在傳感器上設置多個測點,獲得被測熔體不同高度區間的電阻值;基于電阻值與區間高度之間的關系,識別出分層熔體界面所在區間;利用單層熔體的電阻值,推算出分層熔體界面的準確位置,進而計算出每層熔體的高度。本發明使用多個環形測點一次性測出分層熔體的分界面高度,以及各層電阻率,簡化了測量過程,提高了測量的效率,適用范圍廣,可用于高溫、腐蝕等介質的特殊場合,可以廣泛應用于石油、化工、冶金等行業中。
聲明:
“多層熔體高度的測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)