本發明公開了一種基性巖中原位鋯石的尋找方法,是將新鮮基性巖制成探針薄片后,結合偏光顯微鏡、偏光鏡陰極發光儀、電子探針分析儀BSE成像及電子探針能譜儀進行分析,從而準確判斷原位鋯石的位置。本發明的方法可以解決在硅不飽和的基性巖(SiO2<52%)中難以尋找硅酸鹽礦物鋯石(ZrSiO4)的問題,并可以觀察基性巖原位鋯石的形態特征及與其它礦物的空間關系特征,便于在此基礎上進行實驗分析。
聲明:
“基性巖中原位鋯石的尋找方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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