公開了一種直接在套管內采集數據、準確評價低礦化度或低孔隙度的油井中地層參數、在低礦化度或低孔隙度的油井中記錄數據量大、誤差范圍小、精度高的TNIS過套管成像儲層流體評價方法,包括以下步驟:(1)通過高能中子發生器向地層發射快中子;(2)利用長源距探測器和短源距探測器同時采集從步驟(1)的快中子發射后產生的多個時間間隔的熱中子數;(3)根據各個時間間隔的熱中子數生成熱中子時間衰減譜,將其轉換成矩陣數據記錄下來,進而把矩陣數據生成成像圖;(4)通過成像圖并根據油井影響因素與熱中子衰減對應關系來去除井眼大小、水泥環、井壁內流體三種因素的影響,從而獲得客觀的地層參數;(5)地層參數輸出到顯示裝置。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)