本發明涉及一種高精度聚變中子能譜測量裝置及方法。本發明的目的是解決現有聚變中子能譜測量裝置及方法,若采用反沖質子磁分析法,僅適用于高中子產額下的診斷,若采用中子飛行時間法,尚難以利用同一探測系統同時有效獲得初始時間波形和響應波形,若采用不同探測系統,又會額外引入時間差,進而引起求解飛行時間展寬、多普勒能譜展寬和聚變等離子體溫度特征等精度下降的技術問題。該測量裝置包括富氫鈣鈦礦閃爍體、光電轉換器件、電源,以及示波器和計算機;光電轉換器件的光陰極面向富氫鈣鈦礦閃爍體;光電轉換器件的輸出端連接示波器的輸入端,示波器的輸出端連接計算機的輸入端。該測量方法利用該高精度聚變中子能譜測量裝置進行。
聲明:
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