本發明公開了一種基于GIS與雙層神經網絡的土壤剖面測量方法及設備,屬于化探找礦技術領域,用于解決現有的土壤剖面測量的布置位置及線距難以確定,施工多條土壤剖面耗費人力、物力以及較高的化驗經費,且線距過大導致土壤剖面不能完整的顯示異常特征的技術問題。方法包括:在系統采樣、分析測試基礎上,以實施的少量土壤剖面及采樣分析數據作為訓練樣本,通過訓練好的雙層BP神經網絡模型,按照預設的線距乘點距,插值加密若干條土壤剖面及采樣點,提高分析數據的信息量,然后根據實驗室分析數據以及預測數據,作出主成礦元素的平剖圖,之后把平剖圖上的峰值區域連成一條元素異常長軸,結合地形圖以及遙感影像,確定目標槽探位置。
聲明:
“基于GIS與雙層神經網絡的土壤剖面測量方法及設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)