本發明屬于金屬元素的精確定量分析技術領域,公開了一種金屬元素的精確定量分析方法,包括:采集地質樣品并將采集的地質樣品制成測試樣品,對X射線發射裝置進行校正;利用校正后的X射線發射裝置照射所述測試樣品,并采集樣品熒光圖像;同時對采集的樣品熒光圖像進行處理與分析,確定金屬雜質的含量;利用其他檢測設備對制備的測試樣品進行分析測試;基于確定的金屬雜質的含量、分析測試結果以及熒光圖像進行金屬元素的精確定量分析。本發明通過對金屬雜質含量進行測定方法可以大大提高測定金屬雜質含量準確性;同時,本發明能夠全面的對地質樣品的金屬元素進行分析,提高了分析結果的準確性,且分析成本低,分析效率高。
聲明:
“金屬元素的精確定量分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)