本發明公開一種精密測量技術領域的基于導模激發古斯漢欣位移增強效應的微位移測量方法,將高平行度的激光入射到沉積在棱鏡上的金屬膜—空氣隙—沉積在光學玻璃片上的金屬膜組成的雙面金屬包覆波導結構中,在滿足相位匹配條件時,激光耦合進入波導中引起反射光相位相對于入射光相位產生急劇變化,導致反射光束古斯漢欣位移大大增強,利用這個位移對導波層空氣隙厚度變化非常敏感的特性,通過檢測反射光古斯漢欣位移的變化來測量光學玻璃片相對于棱鏡位置的改變,從而實現對待測物體位移大小的測量。本發明可實現高靈敏度、快速準確的實時測量,且方法簡單、抗干擾能力強,可廣泛應用于建筑、地質監測,機械加工、材料檢測的微位移測量。
聲明:
“基于導模激發古斯漢欣位移增強效應的微位移測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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