本實用新型涉及地質勘探電子探針測試用樣品臺技術領域,具體公開了一種用于分析不規則光片的電子探針樣品臺,包括樣品臺以及設置在樣品臺上的大光片放樣區和小光片放樣區,大光片放樣區設有大光片樣品孔,大光片樣品孔內安裝有大樣品托,大樣品托上放置大光片樣品;小光片放樣區設有兩個小光片樣品孔,小光片樣品孔內安裝有小樣品托,大樣品托上放置小光片樣品;本實用新型采用設計不同尺寸的光片樣品孔,適用不同非標準尺寸的光片,使得非標準尺寸光片能順利進入電子探針腔室進行觀測;對非標準尺寸的光片的固定形式多樣;設計的樣品托的底部設有調節凹槽,方便調節光片樣品的高度,樣品托的底部還設置水平調節螺釘,調節光片樣品的水平。
聲明:
“用于分析不規則光片的電子探針樣品臺” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)