本發明公開使用組合的X射線計算機斷層掃描(CT)/X射線熒光(XRF)系統對樣本(104)進行相關性評估,還公開一種使用X射線CT和XRF分析樣本(104)的方法。CT/XRF系統(10)包括用于獲取體積信息的X射線CT子系統(100)和用于獲取元素組成信息的XRF子系統(102)。幾何校準被執行于XRF子系統(102)和X射線CT子系統(100)之間,從而X射線CT獲取期間定義的感興趣區域能被XRF子系統(102)恢復,以便隨后的XRF的獲取。系統(10)結合了X射線CT的亞微米空間分辨率三維成像能力和共焦XRF的元素組成分析,以提供樣本(104)ppm級靈敏度的三維元素組成分析。這適用于許多科研和工業應用,其典型例子就是采礦工業中破碎及研磨原礦和浮選尾礦中的貴金屬顆粒元素識別。
聲明:
“組合共焦X射線熒光和X射線計算機斷層掃描的系統和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)