本申請實施例公開了一種確定地質層位的方法及裝置。所述方法提供有目的層段的電阻率反演剖面數據,其中,所述目的層段包括至少兩個地質層位;所述方法包括:獲取所述目的層段中地質層位對應的電阻率范圍;基于所述地質層位對應的電阻率范圍,對所述電阻率反演剖面數據進行顏色映射處理,得到顏色映射處理后的電阻率反演剖面數據;根據所述顏色映射處理后的電阻率反演剖面數據,確定所述地質層位的位置。本申請實施例提供的技術方案,可以提高在電法反演剖面上所確定地質層位的準確度。
聲明:
“確定地質層位的方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)