本發明公開一種用X射線熒光光譜法測鐵精礦中全鐵含量的方法,包括以下步驟:抽取鐵精礦樣品,將鐵精礦樣品研磨后過200目篩,收集粒徑為≤74μm的粉末,在100?110℃下干燥0.5?1.5小時,然后在25?35T壓力下保持15?25s,制成待測量樣片,然后置于X?射線熒光光譜儀中進行檢測,檢測條件為:X光管電壓20?30kv、管電流40?60mA。本發明具有先進性、適用性、可推廣性,分析時間短、效率高、準確度高、重復性好、無污染。
聲明:
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