本發明公開了一種電化學阻抗、石英晶振阻抗同時測量裝置與分析方法。本發明的測量裝置是在現有阻抗分析儀、電化學工作站兩儀器間串接適當大小的隔離電容,并采用接有隔離電容的BVD等效電路進行數據分析,由此開發出電化學研究現場石英晶振阻抗快速分析程序,同時擬合由阻抗分析儀所測得的電導(G)和電納(B)量。利用本發明可在電化學同時測試過程中達到每1秒獲取一組等效電路參數的技術指標,這是目前國內外最快的電化學過程石英晶振阻抗分析速度。儀器聯用同時測量的結果與單獨測量結果完全一致。本發明在電極表面修飾、化學/生物傳感、電化學反應研究、電鍍、金屬腐蝕和電池測量等領域具有廣泛應用前景。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)