本發明公開了一種基于雙猝滅效應的雙波長比率電致化學發光法檢測As(III),通過Au?S鍵作用將As(III)適配體(Ars?3)捕獲到Au?g?C3N4修飾電極表面,再通過靜電作用使PDDA與Ars?3結合生成PDDA/Ars?3/Au?g?C3N4電極,該電極在含Ru(bpy)32+的Na2S2O8溶液中發射Au?g?C3N4的ECL信號;當存在As(III)時,As(III)與Ars?3特異性結合使得Ars?3的構象發生變化,導致PDDA/Ars?3/Au?g?C3N4電極表面釋放出部分PDDA,形成PDDA/As(III)/Ars?3/Au?g?C3N4電極,將該電極構成的三電極系統置于含Ru(bpy)32+的Na2S2O8溶液中,根據Ru(bpy)32+與Au?g?C3N4的ECL信號比值與As(III)濃度的關系實現對As(III)的超靈敏和選擇性檢測。
聲明:
“基于雙猝滅效應的雙波長比率電致化學發光法檢測As(III)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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