本發明公開了一種基于聯邦個性化學習的光刻熱區檢測方法,中心服務器聚合每個節點返回的全局模型參數,用于融合每個節點的共同特征,更新全局模型參數,再把最新的全局模型參數反饋到每個節點;每個節點從中心服務器下載全局模型參數,然后利用本地數據訓練局部模型參數,以找到當前全局模型參數下局部模型參數的最優,用于克服不同節點的模型異構和數據異構;局部模型參數微調之后,節點利用本地數據訓練全部參數,以找到當前參數的最優,用于尋找不同節點的共同特征。本發明解決了局部數據過少而產生的模型過擬合問題;保護各芯片設計廠商之間的數據,實現隱私保護;提高了異構環境中聯邦個性化學習模型的穩定性和整體精度。
聲明:
“基于聯邦個性化學習的光刻熱區檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)