本發明提出了一種對裝置的未來功能運行預后的運行中的電化學裝置的表征,尤其是:*存儲器(MEM)中的存儲,根據所述裝置的各個操作點,針對給定的裝置類型,存儲所述裝置的至少一個功能運行參數的隨時間的多個變化模型,*訪問所述存儲器并且包括至少一個連接到所述裝置的連接的處理器(PROC)的實施:?獲取與所述裝置的當前操作點有關的信息項,?在存儲器中恢復至少一個與所述裝置的當前操作點相對應的變化模型,?從所述裝置接收至少一個功能運行參數當前值的測量值,?將所述測量值與從存儲器中恢復的變化模型進行比較,以臨時定位裝置的功能運行,并據此,?估計所述裝置的功能運行預后。
聲明:
“對運行中的電化學裝置的未來功能運行預后的改良性表征” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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