一種基于壓電阻抗法的熱障涂層熱生長氧化層無損檢測方法,屬于材料無損檢測與評價技術領域。該系統由阻抗分析儀、壓電晶片、涂層試樣、計算機等組成。首先利用強力膠將壓電晶片固定到涂層試樣待檢測部位,焊接導線并校正阻抗分析儀。然后利用阻抗分析儀在兆赫級頻帶內,對壓電晶片進行電阻抗模值信號測量,根據測量結果選取諧振峰分布集中的頻帶作為檢測頻段,確定采樣點數和采樣頻率。在選定的檢測頻段內對氧化前后的涂層試樣分別進行電阻抗模值信號測量。最后根據電阻抗信號測量結果,計算出氧化損傷識別指數RMSD,對形成熱生長氧化層進行判定。本方法具有100%無損檢測的優點,成本低,效率高,操作方便,易于實用化,具有較大的經濟效益和社會效益。
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