本發明涉及一種基于工業CT的環狀截面壁厚快速測量方法,屬于無損檢測技術領域,解決現有回轉腔體構件壁厚測量過程中無法獲得回轉腔體構件壁厚的最大、最小值問題。本發明的測量方法步驟包括:步驟1:獲取回轉腔體構件的圓環截面,對圖像區域劃分;步驟2:確定圓環截面的圓心坐標;步驟3:計算圓環截面的最大半徑Rmax,繪制虛擬圓;步驟4:計算虛擬圓中任一點的像素距離,求取任一點的實際壁厚。本發明通過工業CT成像設備獲取待測位置圓形截面,利用兩條弦線獲取圓環截面的圓心坐標,在保證不損傷被測構件的前提下,求取回轉腔體構件壁厚的最大值和最小值,原理簡單、計算量小、運行算速度快。
聲明:
“基于工業CT的環狀截面壁厚快速測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)