本發明提供了一種測試方法、測試系統、電子設備和可讀存儲介質,其中測試方法包括:對所述半導體器件進行第一測試;根據所述第一測試的第一測試結果,將所述多個功能單元分為有效單元和失效單元;判斷所述半導體器件上具有所述失效單元的區域是否為特定失效區域;若是,將部分有效單元標記為待定單元,所述部分有效單元鄰近所述特定失效區域內的失效單元,并確定所述待定單元中是否具有早期失效單元,進而可以快速地篩選出半導體器件上的早期失效單元,進而不必通過對每個有效單元進行可靠性測試,來篩選出半導體器件上的早期失效單元,不僅縮短了篩選時間、提高了篩選效率,而且降低了篩選成本。
聲明:
“測試方法、測試系統、電子設備和可讀存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)