• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 測試方法、測試系統、電子設備和可讀存儲介質

    測試方法、測試系統、電子設備和可讀存儲介質

    1333   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:00:12
    本發明提供了一種測試方法、測試系統、電子設備和可讀存儲介質,其中測試方法包括:對所述半導體器件進行第一測試;根據所述第一測試的第一測試結果,將所述多個功能單元分為有效單元和失效單元;判斷所述半導體器件上具有所述失效單元的區域是否為特定失效區域;若是,將部分有效單元標記為待定單元,所述部分有效單元鄰近所述特定失效區域內的失效單元,并確定所述待定單元中是否具有早期失效單元,進而可以快速地篩選出半導體器件上的早期失效單元,進而不必通過對每個有效單元進行可靠性測試,來篩選出半導體器件上的早期失效單元,不僅縮短了篩選時間、提高了篩選效率,而且降低了篩選成本。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “測試方法、測試系統、電子設備和可讀存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>