毛細管微焦點鍍層測厚儀
毛細管微焦點鍍層測厚儀iEDX-150uT是一種高性能高精度X熒光光譜儀,具備極高的性價比.
概況
iEDX-150uT是一種X射線熒光分析儀器。將測量用的物體(如:電路板)放在臺上并開始分析,則分析第二熒光X射線是否被分析,以及所含元素的種類,并將其開發制成iEDX-150uT,用于第一X射線的物體調查和生成。為適應RoHS元素分析的需要,對其進行了早期的定性和定量分析, iEDX-150uT能準確完成。
軟件特性
1.高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
2.計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換器)
Multi Ray. 運用基本參數(FP)軟件,通過簡單的三步進行無標樣標定,使用基礎參數計算方法,對樣品進行精確的鍍層厚度分析
3.MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度
4.勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如:Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應 [如:Sn-Pb/Cu ]
5.Multi-Ray. WINDOWS7軟件操作系統
6.完整的統計函數均值、 標準差、 低/高讀數,趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等
7.自動移動平臺,用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量。最大測量點數量 = 每9999 每個階段文件。每個階段的文件有最多 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含完全統計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
產品應用:
毛細管微焦點鍍層測厚儀 iEDX-150μT,具備極高的性價比。產品廣泛應用于特殊鍍層厚度檢測:化學鍍
鎳鈀浸金、鈀、鎳、銠等;汽車零部件、線路板(PCB)鍍層厚度檢測,如:電容;單層、多層、合金鍍層檢測;還可用于礦山、化工、金銀首飾、冶煉及金屬加工、機械與電子制造等行業,對企業產品品質檢測、成本控制、生產效率的提高有著極高的經濟價值。