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    > 多模式三維光學輪廓儀

    多模式三維光學輪廓儀

    多模式三維光學輪廓儀

    241
    規格/型號：Zeta20
    品牌：納騰
    應用領域：檢測設備
    產地：上海 - 上海
    廠家/供應商：上海納騰儀器有限公司
    咨詢電話:：021-6428 3335（請說明信息源自“中冶有色網”）
    更新時間：2025-07-07
    級別：待認證

    多模式三維光學輪廓儀說明介紹

    Zeta20多模式三維光學輪廓儀

    Zeta20多模式三維光學輪廓儀


    Zeta-20臺式光學輪廓儀是非接觸式3D表面形貌測量系統。該系統采用ZDot?技術和Multi-Mode(多模式)光學系統，可以對各種不同的樣品進行測量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理，以及納米至毫米級別的臺階高度。

    Zeta-20的配置靈活并易于使用，并集合了六種不同的光學量測技術。ZDot?測量模式可同時采集分辨率3D數據和TrueColor（真彩）無限遠焦點圖像。其他3D測量技術包括白光干涉測量、Nomarski干涉對比顯微鏡和剪切干涉測量。ZDot或集成寬帶反射儀都可以對薄膜厚度進行測量。Zeta-20也是顯微鏡，可用于樣品復檢或自動缺陷檢測。Zeta-20通過提供臺階高度、粗糙度和薄膜厚度的測量以及缺陷檢測功能，適用于研發及生產環境。

    主要功能

    臺階高度：納米到毫米級別的3D臺階高度

    紋理：平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波紋度

    外形：3D翹曲和形狀

    應力：2D薄膜應力

    薄膜厚度：30nm到100μm透明薄膜厚度

    缺陷檢測：捕獲大于1μm的缺陷

    缺陷復檢：采用KLARF文件作為導航以測量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置

    技術特點

    Zeta-20是采用ZDot和Multi-Mode（多模式）光學器件的簡單易用的光學輪廓儀，具有廣泛的應用：

    可用于樣品復檢或缺陷檢測

    Z-Dot：同時采集分辨率3D數據和TrueColor（真彩）無限遠焦點圖像

    ZXI：白光干涉測量技術，適用于Z向分辨率高的廣域測量

    ZIC：干涉對比度，適用于亞納米級別粗糙度的表面并提供其3D定量數據

    ZSI：剪切干涉測量技術提供z向圖像

    ZFT：使用集成寬帶反射計測量膜厚度和反射率

    AOI：自動光學檢測，并對樣品上的缺陷進行量化

    生產能力：通過測序和圖案識別實現全自動測量

    應用：

    肖特玻璃-表面粗糙度

    可用來測試玻璃等透明表面及不透明表面的形貌和表面粗糙度。

    太陽能電池–不同反射率表面形貌測量

    輕松獲得復雜差異化反射率樣品的表面形貌。

    MEMS器件–臺階高度和粗糙度

    小尺寸樣品nm級臺階精度，大尺寸樣品的亞微米臺階精度。

    鏡頭-完整的表面輪廓

    圖像拼接功能，可獲得大面積樣品的完整表面輪廓。

    高分子薄膜-膜厚測量

    可用于PI和PR薄膜的厚度測量，并可生成整片晶圓上的膜厚mapping。

    藍寶石-圖案化晶片表面缺陷

    可對特定缺陷進行三維輪廓掃描并進行相關測量，并對晶圓表面缺陷按尺寸、亮度、長寬比等進行分布統計并生成mapping。
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    多模式三維光學輪廓儀 三維光學輪廓儀 檢測設備
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    所屬領域：
    檢測設備
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    021-6428 3335
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