FA系列失效分析探針臺
FA8失效分析探針臺是專為失效分析實驗室設計的一款量測設備,具光學特性、激光特性,設備結構穩定,系統性能優異,人體工程學設計,操作便捷,支持多功能升級,產品功能豐富齊全。
基本信息
產品型號:FA8工作環境:開放式
電力需求:220VC,50~60Hz
操控方式:手動探針臺
產品尺寸:960mm長*850mm寬*1500mm
高設備重量約:260KG
應用方向
常溫和高低溫環境下的
芯片失效分析、射頻特性器件失效分析、材料/器件的IV/CV特性測試及失效分析、芯片內部線路/電較為/PAD測試、IC/面板內部線路修改/去層。