本發明涉及一種五軸四維異形樣品X射線熒光光譜探測裝置,設有支架、外殼、X射線發生系統、五軸可調探測系統、顯微攝像系統、三維測件臺座和信息分析和控制系統;探測系統的主體探測頭的下方設有多孔右底板、伸縮曲桿和可調節橫桿、螺絲桿及旋鈕;X射線發生系統的主體X射線管下方設有左底板、可調底支架;顯微攝像系統的主體攝像頭固定在可前后左右調節位置的活動支架上;測件臺座設有臺板、調節螺絲桿、調節控制器;所述信息分析和控制系統設有計算機及其顯示器、打印機;還設有定時運行控制系統和安全報警器。本發明適用于利用X射線熒光光譜對各種成份和形態的礦物質、生物質等進行成份分析。結構完善、使用方便靈活、探測效果好效率高、安全可靠。
聲明:
“五軸四維異形樣品X射線熒光光譜探測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)