本實用新型涉及半導體檢測設備領域,具體地說,涉及一種全自動半導體視覺檢查機。包括內置有控制主機的主機箱、供料機構、上料機構、旋轉送料機構、若干個視覺檢查裝置、若干個姿態調整裝置和收料機構。本實用新型實現了自動檢查半導體產品的外觀,經過多次對半導體的姿態調整,配合高分辨率的視覺攝像頭,檢查產品的所有外表面,一次旋轉,各個工位同時進行作業,各個攝像頭同時拍攝,旋轉節拍非常短,效率高,檢測過程無需人為參與,人員占有率低,可脫機作業;無人員接觸產品,不會對產品外觀造成二次污染,而且,品控穩定,漏檢率為零;同時,人機交互友好,低能耗,高性能,設備壽命長,無廢水廢氣等排放。
聲明:
“全自動半導體視覺檢查機” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)