本發明提出一種二維二硫化鎢薄膜晶界的鑒別方法。包括以下步驟:將S粉末放置在第一石英舟中,WO3粉末放置在第二石英舟中;將待鑒別的二維二硫化鎢薄膜樣品放入第三石英舟中;分別將三個石英舟放置在化學氣相沉積系統的石英管內,通入氬氣作為載流氣體,并加熱對二維二硫化鎢薄膜進行二次生長,得到晶界明顯的二維二硫化鎢薄膜;利用光學顯微鏡直接觀測得到的二維二硫化鎢薄膜樣品,可以明顯分辨出二維二硫化鎢薄膜的晶界。本發明操作簡便,精確度高,對設備要求低,避免了用復雜的高精度儀器來探測二維材料的晶界。
聲明:
“二維二硫化鎢薄膜晶界的鑒別方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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