有色金屬物理檢測設備

瓦斯放散初速度測定儀 880     

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瓦斯放散初速度測定儀是一款全自動的實驗設備，主要用于煤與瓦斯突出危險性預測中主要指標——瓦斯放散初速度△P；考查研究煤的瓦斯放散特性，連續測定一個大氣壓下吸附高濃度甲烷后，0-60秒的瓦斯放散初速度。 瓦斯放散初速度測定儀的核心元件采用進口傳感器，完全實現計算機檢測控制，整個測試過程只需根據計算機界面提示按動相應鍵就可完成；解決了人為因素對實驗結果帶來的誤差；測試后的結果以曲線報表的形式打印輸出

全自動瓦斯吸附常數測定儀 883     

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WY-98A全自動瓦斯吸附常數測定儀依據GBT 19560-2008 《煤的高壓等溫吸附試驗方法》標準,是我司研發制造的智能化裝備。該儀器可測定煤對瓦斯的吸附常數（a,b 值），該指標廣泛應用于瓦斯含量快速測定、礦井瓦斯壓力計算、煤的吸附特性分析等實驗過程，是礦井瓦斯基礎參數重要指標。WY-98A全自動瓦斯吸附常數測定儀自動化控制瓦斯吸附實驗過程，軟件擬合等溫高壓吸附曲線，是現代化礦井安全生產瓦斯實驗室分析儀器

高壓容量法瓦斯吸附裝置 871     

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高壓容量法瓦斯吸附裝置主要用于煤礦瓦斯含量測定過程中測定煤對瓦斯的吸附常數（a,b 值）。然后即可利用井下實際測定的瓦斯壓力，計算煤層噸煤瓦斯含量。

30噸/300KN微機控制電液伺服水泥抗折抗壓一體機 893     

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本機按JC/T960-2022《水泥膠砂程度自動壓力試驗機》試驗要求制作，來用微機控制，具有等速試驗力，等速應力，試驗力保持雙工位的試驗空間等控制模式技計算機實現了試驗數據。試驗曲線的屏幕顯示，磁盤存儲，數據庫管理等功能，連接打印機可輸出實驗數據報告，產品具有精度高，可靠性高，操作方便等特點。

熔鹽物性綜合測試儀 1121     

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測量熔鹽的密度、表面張力、電導率和初晶溫度，利用設備的熱稱重系統和精確定位系統開展相應的研究工作，例如研究熔鹽的揮發損失等。

熔鹽物性綜合測試儀 1042     

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1. 使用溫度：1600度； 2. 擁有導向式電導池專利技術 ，電導率測量數據精準、穩定； 3. 爐底可電動升降，方便試料裝入和取出； 4. 底部可接入保護氣體。

熔鹽電導率測試儀 1112     

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1. 結構簡單； 2.擁有導向式電導池專利技術，測量數據精準、穩定； 3. 采用小型電爐，小尺寸坩堝，實驗成本低； 4. 爐底升降，取放試料方便。

接觸式高精度鉑熱電阻測溫儀 1494     

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本儀器是一款使用PT1000鉑熱電阻作為傳感器測量溫度信號的高精度熱電阻溫度計。大液晶屏幕顯示，0.01高顯示分辨率，測量精度可達±0.1℃。具有數據存儲與查詢功能。廣泛應用于工業生產、研發實驗、質量控制、冷藏存儲、汽車制造等多種場合。

高溫真空粘度儀 1667     

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本儀器是基于旋轉法而研制的熔體粘度儀，可實現在真空或保護氣氛下測試玻璃、渣類以及煤灰保護渣等材料的粘度。

熔鹽粘度儀 1669     

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本儀器是基于旋轉法而研制的熔鹽粘度儀，專用于高溫低粘度液態熔鹽樣品的粘度測量。

熔鹽物性綜合測試儀 1678     

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本產品主要用于高溫液態熔鹽的密度、電導率、初晶溫度和表面張力的測量。

振蕩杯粘度儀 1793     

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本產品是基于扭擺法原理，為非接觸式高分辨測量，尤其適用于大密度、低粘度合金或金屬的粘度測試。

電子分析天平 1806     

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FA1004A電子分析天平人性化設計、結構新穎、五面全透明的玻璃防風罩。采用電磁平衡稱量傳感器，保證了產品的高精度。具有全自動故障檢測，線性四點校準，超載保護的保障。應用行業：廣泛應用于制藥業、化學工業、電子及半導體行業、塑膠原料、橡膠、煙草、茶葉、食品、淀粉、飼料、煤炭、型砂、污水污泥、乳業等行業。

鹵素快速水分測定儀 1801     

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深圳艾瑞斯ARS-SF10鹵素快速水分測定儀操作簡單，無需安裝、調試、培訓，拆箱即可使用；彩色觸摸電容屏設計，實時顯示樣品狀態，一鍵式測定水分設計，自動停機并顯示水分含量。應用行業：廣泛應用于制藥業、化學工業、電子及半導體行業、塑膠原料、橡膠、煙草、茶葉、食品、淀粉、飼料、煤炭、型砂、污水污泥、乳業等行業。

黑色金屬電腦多元素分析儀 2413     

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黑色金屬電腦元素分析儀器NJS-ZN207型可檢測多種材料：普通鋼、低合金鋼、不銹鋼、生鑄鐵、球墨鑄鐵、耐磨鑄鐵、合金鑄鐵、有色金屬、鐵礦石、鐵合金、鋁合金、銅合金中的多元素含量等。檢測結果直接電腦顯示，臺式打印機直接打印，并可打印各元素符號。

手持礦石分析光譜儀 2480     

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GF-5700手持礦石分析光譜儀可分析銅 鐵 鈦 釩 鉻 錳 鈷 鎳 鋅 鍶 鋯 鉭 鈮 鉬 錫 銻 鉿 鎢 鉛等自然礦石；暫時不能分析元素H, He, Li, Be, B, C, N, O，Mg, S, P, Si；現場快速分析各種金屬礦石化學成份及品位，滿足國內外各種條件差、沒有分析試驗室礦山單位，用于快速分析礦石成份及品位需求。溫度-35～+50℃，濕度＜80%RH。

激光手持光譜儀 4972     

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QR-L1利用高能量聚焦脈沖激光光束激發樣品表面，對產生的原子光譜通過算法分析得到對應元素成分及含量,這是一種迅速定性及定量的工業應用分析技術。

管式爐紅外碳硫分析儀 5701     

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QIR2002C型主要適用于鋼鐵、稀土金屬、鐵合金、磁性材料、有色金屬、碳化物、陶瓷、無機物、石墨、耐火材料、鐵礦、催化劑、爐渣、水泥、煤、焦炭、巖石及其它材料中碳、硫兩元素的質量分數的測定。

金相分析檢測專用中低速精密切割機 6411     

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中低速精密切割機，設計緊湊，依靠重力提供恒定的進給率自動切割，樣品產生的變形小，切口損失率低。適用于各種金屬材料，線路板和半導體等的精密切割。設備配有多種夾具，可切割不規則形狀的工件，是企業和科研院校理想的精密切割設備。

無級變速金相分析研磨拋光機 6342     

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雙盤雙控手動磨拋機是集金相試樣預磨、研磨和拋光等多功能于一體，動力 強，噪音低，堅固耐用，操作簡單，每個工作盤可獨立控制啟停和調整速度，兩人可以同 時獨立操作，是企業和科研院校理想的研磨拋光機。

D300 經濟型高精度臺階儀 3393     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術的一個優點是它是一種直接測量，與材料特性無關?？烧{節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進行測量。通過測量粗糙度和應力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的多種變化。

ezAFM-便攜式原子力顯微鏡 3368     

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ezAFM是新設計的精致型原子力顯微鏡，具有設計緊湊、美觀大方、高穩定性、占用空間小等特點，而且軟件功能強大、操作簡單、用戶界面良好，而且價格實惠，性價比較為高。它是理想的實驗室用原子力顯微鏡，廣泛應用于高等教育、納米技術教育和基礎研究等領域。產品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學、磁學等拓展模式，以及液相、真空環境等。

MVI原子力顯微鏡與可見-紅外-拉曼聯用系統 3485     

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原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)經過30多年的發展后，從形貌測試及其它常規功能來看已經非常成熟。然而常規的原子力顯微鏡也越來越無法滿足科研人員在納米尺度下對于樣品進行多性質原位測試分析的需求，尤其在化學、光學、電學、熱學、力學等領域。 在具備常規原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術，結合波長可調的可見-紅外光源，從而實現10nm以下空間分辨可見-紅外成像與光譜采集，無需遠場光學接收器及光譜儀。 此外，VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類拉曼光譜儀

VITA　反應離子刻蝕機（垂直腔室） 2017     

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反應離子刻蝕系統，垂直腔室

SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 2326     

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SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 工作原理基于表面等離子共振（SPR）技術。是將表面等離子體共振技術和光學顯微鏡巧妙結合為一體的生物傳感檢測儀?？梢酝瑫r得到細胞原位明場成像、SPR成像、及SPR動力學曲線定量親和常數、結合解離常數，它為免標記研究分子相互作用的領域開辟一個嶄新的前沿。專門針對細胞膜蛋白和相關分子免標記檢測而設計的SPRm200， 使您在不需要從細胞中提取和分離膜蛋白的前提下實時觀察細胞結構并同時測量藥物和靶點在細胞上的結合過程。還可進行對藥物和在天然狀態下的膜蛋白之間相互作用的測量，高分辨SPR成像，可

原位納米壓痕儀 2355     

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NanoFlip產品既可以工作在真空環境下進行各種原位力學測試；也可以直接在大氣環境下測試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學性能。 NanoFlip在硬度和楊氏模量測試、連續剛度測試（CSM）、力學性能譜圖（Mapping）、納米動態力學分析（DMA）、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試中表現出色，可同時將SEM圖像與力學測試數據同步。NanoFlip還可以進行快速壓痕測量，這是在惰性環境（如手套箱）中研究非均相材料的重要手段。

Candela CS920表面缺陷檢測儀 2068     

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KLA Candela光學表面缺陷分析儀（OSA）可對半導體及光電子材料進行先進的表面檢測。Candela系列既能夠檢測Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板，又能對SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料進行檢測，成為其制程中品質管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光學表面分析（OSA）專用技術，可同時測量散射強度、形狀變化、表面反射率和相位轉移，為特征缺陷（DOI）進行自動偵測與分類。OSA檢測技術結合散射測量、橢圓偏光、反射測量與光學形狀分析等基本原理，以非破環性方式對Wafer表面的殘留異物，表面與表面下缺陷，形狀變化和薄膜厚度

電阻率測試儀 1884     

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Filmetrics的薄膜電阻測量設備開發源自于有著超過30年經驗的KLA的薄膜電阻計量技術，并由20年臺式測量設備開發經驗的Filmetrics團隊完善了桌面式方塊電阻測量產品。KLA薄膜電阻測量技術包括接觸（4PP）和非接觸（EC）方法。 Filmetrics的R50系列方塊電阻測量儀器可測量沉積在多種基材上的導電片和薄膜，跨越10個數量級范圍電阻率，包括：半導體晶圓基板、玻璃基板、塑料（柔性）基材、PCB圖案特征、太陽能電池、平板顯示層和圖案化特征、金屬箔

Desk V 薄膜沉積解決方案 1954     

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Desk V樣品制備系統配制用于蒸發和濺射，是一種高生產率的解決方案，可提供卓越、一致和高度可重復的結果。 Desk V鍍膜系統提供兩種版本：Desk V HP和Desk V TSC。Desk V TSC，是渦輪分子泵濺射鍍膜機選項，專為高分辨率顯微鏡樣品設計，適用于氧化和非氧化金屬。Desk V磁控濺射裝置精確沉積導電鍍膜，其熱蒸發選項可以沉積薄碳層(使用棒材或紗線)。

D300 經濟型高精度臺階儀 1966     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術的一個優點是它是一種直接測量，與材料特性無關?？烧{節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進行測量。通過測量粗糙度和應力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的多種變化。