全部
▼
熱搜：
1937
0
ezAFM是新設計的精致型原子力顯微鏡，具有設計緊湊、美觀大方、高穩定性、占用空間小等特點，而且軟件功能強大、操作簡單、用戶界面良好，而且價格實惠，性價比較為高。它是理想的實驗室用原子力顯微鏡，廣泛應用于高等教育、納米技術教育和基礎研究等領域。產品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學、磁學等拓展模式，以及液相、真空環境等。
2427
0
在具備常規原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術，結合波長可調的可見-紅外光源，從而實現10nm以下空間分辨可見-紅外成像與光譜采集，無需遠場光學接收器及光譜儀。VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類拉曼光譜儀進行聯用，組成原子力顯微鏡與可見-紅外-拉曼聯用系統，以滿足科研人員在納米尺度下的測試需求。
1927
0
KLA是全球半導體在線檢測設備市場較大的供應商，在半導體、數據存儲、 MEMS 、太陽能、光電子以及其他領域中有著不俗的市占率。 P-7是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統，歷經技術積累和不斷迭代更新，集合眾多技術優勢。 P-7建立在市場領先的P-17臺式探針輪廓分析系統的成功基礎之上。 它保持了P-17技術的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。從可靠性表現來看， P-7具有較好的測量重復性。UltraLite?傳感器具有動態力控制，
5102
0
LHMY-HJ125x150顎式合金破碎機 一、概述： 顎式合金破碎機主要用于化驗室，對原材料的中碎和細碎,其破碎方式為曲動擠壓式。被破碎物料的大塊度應小于其選用機器型號料口尺寸的10-60毫米。被破碎物料的抗壓強度為中等硬度。配用合金材質鄂板，如破碎物料有其它要求可提前定貨。
3619
0
JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。 利用200KV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。
3050
0
島津UV－3600是世界領先的高性能的紫外可見近紅外分光光度計，性能卓越。紫外可見分光光度計是每個化學分析實驗室必備的常用儀器設備之一，在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應用。島津的紫外可見分光光度計產品線非常豐富，從最普通的單光束分光光度計到測量范圍可以擴展到深紫外、近紅外區域的UV－VIS－NIR分光光度計。
2921
0
XRADIA CONTEXT MICROCT，是一款大觀察視野、無損 3D X射線微焦點計算斷層掃描系統?？蓾M足多種 3D 表征和檢測需求的成像解決方案，不僅能夠在3D全景中展示完整大樣品的內部細節，還能針對小樣品使用大的幾何放大倍數實現高分辨率和高襯度成像觀察細節特征。XRADIA CONTEXT 建立在歷經考驗的蔡司XRADIA平臺之上，圖像質量、穩定性和易用性均屬上乘，且具備高效的工作流環境和高通量掃描功能。
3653
0
日本電子 JXA-8230電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結果。JXA-8230電子探針是能完全滿足多種需求的強力分析工具之一。
2366
0
ZETASIZER NANO ZS90 ZETA電位分析儀是一款高性價比的分子/粒度和ZETA電位分析儀。使用動態光散射以90度散射角測量顆粒和分子粒度，具有使用激光多普勒微電泳測量ZETA電位和電泳遷移率的能力，以及使用靜態光散射測量分子量。動態光散射檢測由于顆粒布朗運動而產生的散射光的波動隨時間的變化。檢測器將散射光信號轉化為電流信號，再通過數字相關器的運算處理，得到顆粒在溶液中擴散的速度信息，即擴散系數。通過STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒徑大小及其分布。
2633
0
蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列，是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結合。無論是加工、成像或進行3D分析，都能在不損失精度的前提下，提高聚焦離子束的應用效率。
3479
0
日立場發射掃描電子顯微鏡SU8020采用日立技術公司全新開發的冷場電子槍，實現超高分辨率下觀察的同時，穩定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。是利用二次電子和背散射電子信號，通過真空系統、電子束系統和成像系統獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等的一種分析儀器。
3383
0
TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡是一個多功能、多用戶環境的200KV場發射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明場、暗場像和髙分辨像，能進行選區電子衍射，能進行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數像的分析，STEM結合EⅨ點、線掃描的可以進行微區能譜分析。
5312
0
德國耐馳公司全新推出的熱流法導熱儀 HFM 446 Lambda，為導熱系數的測量建立了新的標準化方法，可應用于研究開發與質量控制領域。其適用的行業與材料，包括膨脹聚苯乙烯（EPS），擠出聚苯乙烯（XPS），PU 堅硬泡沫，礦物棉，膨脹珍珠巖，泡沫玻璃，軟木塞，羊毛，天然纖維材料，包含相變材料、氣凝膠、混凝土、石膏或聚合物的建筑材料，等等。
TMA402F1/F3 Hyperion? 為耐馳公司*新推出的熱機械分析儀，可以有效地分析樣品在一定負載下的熱機械/熱膨脹特性。*大樣品長度30mm，*大作用力 3N。內置的高精度力傳感器保證了 mN 范圍的精que可控的作用力。
3300
0
TMA 4000 SE 為耐馳公司*新推出的另一款熱機械分析儀，可以you效地分析樣品在一定負載下的熱機械/熱膨脹特性。
3614
0
NETZSCH LFA 457 MicroFlash? 儀器為桌上型，溫度范圍 -125 ... 1100°C。為了覆蓋這一溫度范圍，提供了兩種可自由切換的爐體。 系統所使用的全新的紅外傳感器技術使得用戶甚至可以在 -125°C 的低溫下測量樣品背部的溫升曲線。 儀器既可使用內置的自動樣品切換器在一次升溫中對多個較小的樣品進行測量，也可單獨測量較大的樣品（*大直徑 25.4mm）。 真空密閉系統使得儀器可以在多種用戶可選的氣氛中進行測量。 樣品支架、爐體與檢測器的垂直式排布方便了樣品的放置與更換，同時使得檢測信號擁有*佳的信噪比。 LFA 457 是強大與靈活
2025年06月06日 ~ 08日 
2025年06月06日 ~ 08日 
2025年06月13日 ~ 15日 
2025年06月13日 ~ 15日 
2025年06月13日 ~ 15日 
