工作原理:
72DL PLUS基于高頻超聲波脈沖反射原理,設備發射窄脈沖超聲波(頻率范圍10MHz-100MHz可調),超聲波穿透材料后,在底面或界面產生反射回波。內置的高靈敏度接收器捕獲回波信號,并通過數字信號處理算法計算超聲波在材料中的傳播時間。結合已知的聲速參數,系統自動換算出材料厚度,測量精度達±0.001mm。針對超薄材料,設備采用特殊設計的窄脈沖探頭與優化算法,有效消除多次反射干擾,確保測量結果的穩定性與重復性。
應用范圍:
適用于半導體行業晶圓、封裝基板的厚度均勻性檢測;滿足電子制造領域手機玻璃、OLED屏幕、柔性電路板的微米級厚度測量需求;可應用于精密機械行業軸承套圈、薄膜傳感器的在線質量控制;同時支持航空航天領域復合材料構件、高溫合金薄板的厚度監測,符合ASTM E797、ISO 20340等國際標準要求。
產品技術參數:
頻率范圍:10MHz-100MHz連續可調;最小可測厚度:0.05mm;測量精度:±0.001mm(標準試塊);分辨率:0.0001mm;顯示刷新率:≥50次/秒;數據存儲:支持10萬組以上測量記錄;接口類型:USB 3.0、藍牙5.0;防護等級:IP65,適應-10℃至50℃工作環境;電池續航:≥12小時(連續測量)。
產品特點:
高頻窄脈沖技術突破超薄材料測量極限;一鍵式自動校準功能簡化操作流程;大尺寸高亮度顯示屏支持強光環境清晰讀數;無線數據傳輸模塊實現實時監控與云端存儲;智能統計分析軟件提供厚度趨勢圖與CPK值計算,助力企業構建數字化質量管控體系。