本發明公開了一種利用近紅外光譜對面條中馬鈴薯全粉含量的快速測定方法,包括以下步驟:采集含有不同全粉比例面條的近紅外光譜;進行光譜預處理;建立預測模型;并通過該模型對未知樣品中馬鈴薯全粉含量進行預測;面條中馬鈴薯全粉快速測定方法具體通過偏最小二乘法或者主成分法建立預測模型,光譜區間選擇在10000~4000cm?1;該方法操作簡單,且可快速及無損檢測面制品中馬鈴薯全粉及的含量。
聲明:
“基于近紅外光譜的面條中馬鈴薯全粉含量快速測定的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)