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DM 2500P全手動式專業偏光顯微鏡是一款研究級顯微鏡，專為巖片、玻璃、陶瓷、塑料、高分子材料等樣品的偏光特性高級觀察分析設計。它采用模塊化設計，支持透射和透反射配置，具備25mm視野直徑的整體光路和5孔位手動物鏡轉盤，配備偏光專用物鏡。反射光支持明場、偏光、干涉觀察，透射光支持明場、暗場、偏光、干涉、錐光觀察。機身內置12V100W透反射照明電源，支持手動光強調節，可連接100W鹵素燈箱。顯微鏡設計考慮了偏光專用鏡片的安放，確保整體和諧。
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DMI LM倒置式顯微鏡是一款全手動實驗級金相顯微鏡，主要用于反射觀察，滿足金相樣品的常規檢測分析需求。它具備20mm視野直徑的整體光路，配備4孔位手動物鏡轉盤，提供內置35W鹵素燈照明或外接100W變壓器的鹵素燈照明。該顯微鏡支持明場和偏光觀察方式，可配接徠卡的各倍數物鏡，以及固定式或三板移動樣品臺。此外，它還可以配接攝像頭或數碼相機等圖像采集設備，實現圖像存儲，并配合分析軟件進行圖像分析。
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Leica DM750M正立式顯微鏡是一款多功能的顯微鏡，適用于透射和反射觀察，能夠滿足各種材料樣品的常規檢測分析需求。它具備20mm視野直徑的整體光路，配備4孔位手動物鏡轉盤，提供LED照明，并支持明場、偏光及斜照明等多種觀察方式。該顯微鏡可配接徠卡的各倍數物鏡，以及一體化的ICC50圖像采集模塊，內置數碼相機能夠提供實時圖像并采集存儲，整體設計美觀和諧。此外，它也可以配接外置數碼相機進行圖像采集。
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DVM 5000三維視頻顯微鏡是一款高性能的顯微鏡設備，具備211萬動態解析度的彩色實時畫面，提供多種鏡頭選擇（0-50X、20-160、50-400、35-7000），支持360度連續旋轉觀察。它配備多種照明模式，包括側光、同軸、環形、擴散、偏振、透射和微分干涉等，能夠滿足不同觀察需求。設備采用編碼技術，自動識別圖像獲取條件，支持高清晰圖片記錄和電影錄制。此外，DVM 5000具備2D自動測量和精確的3D模型建立功能，實時二維、三維圖像拼接功能，以及BGA觀察功能。它還支持電動或手動精密調焦，并通過電腦軟件一體化設計實現便捷操作。
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Leica DCM 3D三維測量顯微鏡是一款結合了共聚焦成像和干涉測量技術的雙核三維輪廓儀，適用于多種樣品的三維立體觀察和測量。它具備電動調焦功能，支持普通平面成像和三維立體成像系統，可進行三維建模、分析及測量。設備集成了BF/DF（明場/暗場）光學顯微鏡、共焦顯微鏡和干涉顯微鏡三種模式，提供超大Z軸范圍（0.1nm-40mm），適合大樣品測量。采用智能雙LED同光路照明，無需耗材維護費用，低圖像失真，支持彩色和3D圖像合成，適用于各種樣品表面，僅需更換物鏡倍率即可在共焦和干涉模式間切換。
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這款模塊化系統采用標準徠卡元器件、變倍光學頭,配數碼攝像頭和數字顯微鏡專用軟件。因此,LeicaDVM2500提供了充裕的選擇余地,令您從完整的徠卡顯微系統產品和附件系列中選擇契合您需求的數字解決方案。此外，LeicaApplicationSuite(LAS)還針對不同的分析和評估工作提供各類軟件模塊。例如,LeicaMAP是用于分析三維模型的軟件。記錄的分析結果可直接打印(LAS、MAP)或使用MicrosoftOffice程序(LAS)進行進一步的處理。
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FT-MTA03集納米壓痕儀、微拉力儀、輪廓儀和通用微觀結構分析儀的功能于一體，其測力范圍為±200mN，力學分辨率可達0.5nN（9個數量級），可在三軸方向測量0.1nm至29mm的位移（8個數量級）。FT-MTA03配置高分辨率顯微鏡，具有95mm的較為高工作距離，可在樣品上方180°旋轉。配備3百萬像素CMOS USB相機，可選擇同軸透鏡照明、環形光和漫射背光三種可調LED照明原理。
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KLA的Filmetrics系列利用光譜反射技術實現薄膜厚度的精確測量，其測量范圍從nm-mm，可實現如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導體膜、有機薄膜、導電透明薄膜等膜厚精確測量，被廣泛應用于半導體、微電子、生物醫學等領域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款產品，可測量從幾mm到450mm大小的樣品，薄膜厚度測量范圍1nm到mm級。FilmetricsF10-RT以真空鍍膜為設計目標，只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。
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上海阜力測量設備有限公司宇舟手自動一體金屬制樣機是專為金屬試樣制備設計的多功能設備，集成手動操作與自動控制雙模式，支持切割、磨削、拋光等全流程制樣，適用于冶金、機械制造、科研院校等領域，為金相顯微觀察、硬度測試等檢測提供高效、精準的試樣制備解決方案。
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Duranmin-40涵蓋了Struers微觀/宏觀硬度測試儀的基本載荷范圍。此測試儀配有手動和電動XY載物臺和一個全景相機。Duramin-40有三個載荷范圍，10gf–10kgf、10gf–31.25kgf和1gf–62.5kgf。測試儀包含帶有立顯示器的集成計算機，可以使用觸摸屏或鼠標進行操作。還可以選擇使用雙顯示器。測試循環是完全自動的，標配電動6位轉臺。附加模塊包括Kc斷裂測量，映射和焊接測量。
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美國Molecular Vista推出的全新一代散射式掃描近場光學顯微鏡（Vista-SNOM）基于光誘導力顯微鏡（PiFM）技術，通過檢測探針與樣品之間的偶極相互作用直接獲得樣品表面的場強分布，無需遠場光學探測器，避免了遠場信號干擾。該技術無縫適應紫外到射頻范圍，簡化了傳統SNOM的復雜配置。Vista-SNOM不僅在PiFM模式下提供與模擬結果高度吻合的場強測量，還具備s-SNOM模式，使科研人員能夠對比分析兩種模式下的場強結果，是研究納米光子學、表面等離激元、二維材料及范德華異質結構等領域的有力工具。
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KLA的Filmetrics系列利用光譜反射技術實現薄膜厚度的精確測量，其測量范圍從nm-mm，可實現如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導體膜、有機薄膜、導電透明薄膜等膜厚準確測量，被廣泛應用于半導體、微電子、生物醫學等領域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款產品，可測量從幾mm到450mm大小的樣品，薄膜厚度測量范圍1nm到mm級。FilmetricsF50系列的產品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度，配備R-θ較為坐標標準和訂制化樣品盤，樣品直徑可達450毫米。
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宇舟無極調速金相試樣單盤磨拋機YMP-1是上海阜力測量設備有限公司代理的金相試樣制備設備，采用單盤設計配合無極調速技術，通過手動或自動控制實現試樣磨削與拋光的靈活操作，適用于金屬、陶瓷等材料的金相試樣制備，為材料檢測、質量控制及科研分析提供高效、均勻的試樣處理解決方案。
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Zeta-20臺式光學輪廓儀是非接觸式3D表面形貌測量系統。該系統采用ZDot?技術和Multi-Mode(多模式)光學系統，可以對各種不同的樣品進行測量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理，以及納米至毫米級別的臺階高度。
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KLA的Filmetrics系列利用光譜反射技術實現薄膜厚度的精確測量，其測量范圍從nm-mm，可實現如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導體膜、有機薄膜、導電透明薄膜等膜厚精確測量，被廣泛應用于半導體、微電子、生物醫學等領域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款產品，可測量從幾mm到450mm大小的樣品，薄膜厚度測量范圍1nm到mm級。F40用于測量光斑<1μm的薄膜膜厚。
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威而信高精度自動調心圓度儀CA35CNC是上海阜力測量設備有限公司代理的高端圓度測量設備，集成自動調心技術與CNC控制系統，可精準測量圓柱、圓錐等回轉體零件的圓度誤差，適用于軸承、汽車零部件、精密機械等行業，為質量控制與工藝優化提供高效、自動化的測量解決方案。
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