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艾格斯威（上海）檢測設備有限公司推出的便攜數字式超聲波探傷儀AG-800，是一款集高精度、輕量化與智能化于一體的無損檢測設備。
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艾格斯威（上海）檢測設備有限公司推出的數字式金屬超聲波探傷儀AG-800PLUS，是一款專為工業無損檢測設計的高性能設備。
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上海泰規檢測設備有限公司的微機控制龍門式彎曲壓縮拉力機 TG - 918，是一款集多種力學測試功能于一體的高端檢測設備，為材料力學性能研究及產品質量把控提供了可靠保障。
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協強儀器制造(上海)有限公司的微機控制電子萬能拉力機，是集先進科技與卓越性能于一身的力學檢測設備，在材料研發、質量控制等領域扮演著關鍵角色。
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上海冶帥精密科技有限公司推出的金屬材料彎曲抗拉壓測試機YSY4605SD，是一款集多種測試功能于一體的高性能設備，可精準評估金屬材料在不同受力狀態下的力學性能，在金屬加工、質量檢測等領域應用廣泛。
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上海發瑞儀器科技有限公司推出的萬能材料拉伸彎曲試驗機 FR - 100，是一款功能強大、性能卓越的材料力學性能測試設備，廣泛應用于多個行業領域。
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這是一款科學級開爾文探針，用于精確測量半導體和導電材料的功函數，分辨率達到0.1 meV。它采用非接觸式振蕩電容測量方法，參考金的功函數（5.1 eV），適用于研究腐蝕、吸附/解吸、表面充電、催化活性等表面特性。系統配備激光筆、數碼顯微鏡和電動垂直定位系統，精度為10微米，還可選裝X-Y定位功能。結合寬帶光導和高壓氙弧燈，可實現表面光電壓光譜測量，光電壓分辨率優于5 mV（長集成時間為0.1 mV），適用于研究光催化劑、太陽能電池等光活性材料。
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掃描開爾文探針是一種高精度的表面電學特性測量儀器，能夠測量樣品表面的接觸電位差（CPD）、功函數、費米能級位置、表面電位、表面吸附對功函數的影響等參數。它配備光源和激光屏障系統，可實現高精度的距離檢測和樣品表面照明，適用于多種材料（包括半導體、電介質）的表面分析。儀器包括控制器單元、探針尖端、法拉第籠、電動XY工作臺等組件，探針尖端采用2.5mm直徑的Au網設計，提供高信噪比。法拉第籠可保護儀器免受環境干擾，還可選擇氣密版本以適應敏感測量需求。
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射頻發生器 射頻電源是一種高性能射頻發生器，其采用最新LDMOS技術，功率范圍從100W到10kW，頻率覆蓋2MHz到100MHz，具備頻率調諧、脈沖等功能，且配備靈活用戶界面和高級功能。它適用于半導體、工業鍍膜等領域，能在極端動態負載下可靠工作。產品還提供廣泛的功率和頻率配置，集成先進組件，支持高穩定射頻輸出、電弧管理等特性，易于集成和控制。其應用廣泛，包括PECVD、PVD、刻蝕設備等，且在多個知名科研機構和項目中得到應用，如布魯克海文國家實驗室、勞倫斯伯克利國家實驗室等。
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熱舟蒸發源是一種用于實現輕薄薄膜金屬沉積的設備，特別適用于薄層沉積、光學涂覆、混合層沉積和金屬電極接觸等應用。該設備由高質量、高真空兼容材料制成，能夠在超高真空環境下加熱至250℃，確保沉積過程的穩定性和純度。熱舟蒸發源支持手動或馬達驅動擋板，最大工作電流可達100A，可根據客戶需求定制，滿足多樣化的薄膜制備需求。
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半球型電子能量分析譜是一款高性能的電子能譜分析設備，具備120mm半徑的大型高透射半球形分析器和全程180度反轉角度，采用Jost電極進行邊緣校正，配備全磁屏蔽和金屬襯里真空外殼，確保高精度和穩定性。設備支持電腦控制電源、多個光學透鏡和6個可選入口狹縫，提供單通道或多通道檢測器選擇，多通道檢測器還可配備高分辨出口狹縫。搭配SPECTRA V8軟件，用于高效的數據采集和處理，廣泛應用于材料表面電子結構和化學狀態的分析。
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磁控濺射靶源是一種專為超高真空系統（1e-11 Torr）設計的商業用濺射源，能夠在不配置彈性墊圈的結構中烘烤至250℃，實現超高純度的濺射沉積。它適用于金屬、電介質和復合物的沉積。設備提供多種靶材尺寸（如1英寸、2英寸、3英寸等），靶材厚度最低可達4mm，有效節約靶材。濺射源法蘭帶有氣體管道，提升濺射操作時的真空度。支持手動或馬達驅動擋板，可原位傾斜（±30°），配備氣體流量控制，支持全自動化進程，冷卻水流量低（僅0.5L/min），占用空間小，適合高真空環境使用。
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合金納米顆粒UHV沉積源是納米顆粒沉積源，可在超高真空中將純納米顆粒和合金納米顆粒沉積到樣品上，從而形成功能性涂層。此外，我們可以通過精確控制納米顆粒的大小、組成和結構來定制納米顆粒涂層的性能。此外，還提供以下源：單個 1英寸源（NL-D1）、一個 2 英寸源 （NL-D2） 或三個 1 英寸源（NL-D3）。最后，我們可以將這些源集成到您現有的 PVD 系統中，或將它們集成到我們定制的 真空系統中。
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俄歇電子能譜(AES、Auger)是一種利用高能電子束為激發源的表面分析技術. AES分析區域受激原子發射出具有元素特征的俄歇電子。俄歇電子在固體中運行也同樣要經歷頻繁的非彈性散射，能逸出固體表面的僅僅是表面幾層原子所產生的俄歇電子，這些電子的能量大體上處于 10～500電子伏，它們的平均自由程很短，大約為5～20埃,因此俄歇電子能譜所考察的只是固體的表面層。俄歇電子能譜通常用電子束作輻射源，電子束可以聚焦、掃描，因此俄歇電子能譜可以作表面微區分析，并且可以從熒光屏上直接獲得俄歇元素像。
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