本發明是一種具有光、電、熱性能的功能材料基元的篩選方法。所述方法為確定不同溫度下材料基元的晶格的常數;構建材料基元的晶胞模型;對材料基元的光學性質、導熱性質和導電性質進行計算,獲得材料基元的性能與溫度的關系,并構造數據庫;根據實際應用需求篩選出具有指定性性能的功能基元;預測材料基元的熱穩定性。本發明通過計算溫度對晶格參數的影響,獲得不同溫度下材料體系的結構變化,進而建立溫度與材料的結構、性能之間的理論關系,為設計不同溫度下具有特殊性能的材料提供重要的理論指導,避免大量的試錯實驗。該發明可用于光、電、熱、光熱、光電、熱電等材料相關的應用領域以及滿足空間極端環境的航空航天方面的相關應用領域。
聲明:
“具有光、電、熱性能的功能材料基元的篩選方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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